ガラススケール目盛板とは平面光学硝子（透明なガラス）に目盛スケールやサークル・格子などが精密に描かれたものです。

スケールは実寸表示となっており、被検査物体面に密着させて測長したり、

キャリブレーション用ターゲットやガラスゲージ・測定器のマスターとして幅広く使用されています。



ガラススケール目盛板の校正について

『校正』とは測定機器・測定ゲージの精度（ズレ量・誤差）を確認することです。
JIS Z 8103:2000:4342番『校正』、計測用語の定義では、『計器又は測定系の示す値，若しくは実量器又は標準物質の表す値と，標準によって実現される値との間の関係を確定 する一連の作業。（備考 校正には，計器を調整して誤差を修正することは含まない。）』と定義しています。
またISO9001の「監視機器及び測定機器の管理」では測定機器の校正をしなければならない事にについて定義されています。
ガラススケールの校正必要性は、ISO9001の基準を満たすだけではなく、自社測定器、検査機製品の品質保証のためにも役立ちます。
校正は決められた周期で定期的に行うのが原則です。
校正の周期については１年間隔で行うことをお勧めいたします。


・校正測定及び証明書に関しては下記を参照下さい。



外形サイズ変更やオパールなどの白色ガラス・石英材の変更や特注目盛の製作も可能です。お気軽に問い合わせ下さい。

種別	型式	仕様・精度	外形	イメージ図	税別/税込価格	校正測定(別料金)
対物ミクロ	R-TM010 (NO.37)	目盛全長=1mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.01mm±0.002	76×26×1.1t		\12,000(\13,200)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
対物ミクロ	R-TM005	目盛全長=1mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.005mm±0.001	76×26×1.1t		\16,000(\17,600)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平目盛	R-H1020	目盛全長=10mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.1mm±0.002 線巾=0.01mm 下面描画 描画面逆文字	φ20+0.4/-0 t=1		\11,000(\12,100)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平目盛	R-H1024	〃	φ24×1t		\12,000(\13,200)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平目盛	R-H1520	目盛全長=15mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.1mm±0.002 線巾=0.01mm 下面描画 描画面逆文字	φ20+0.4/-0 t=1		\11,000(\12,100)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平目盛	R-H1524	〃	φ24×1t		\12,000(\13,200)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平目盛 +ｸﾛｽ線	R-HC1020	目盛全長=10mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.1mm±0.002 線巾=0.01mm 下面描画 描画面逆文字	φ20+0.4/-0 t=1		\11,000(\12,100)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平目盛 +ｸﾛｽ線	R-HC1024	〃	φ24×1t		\12,000(\13,200)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平目盛 +ｸﾛｽ線	R-HC1020h	目盛全長=10mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.05mm±0.002 線巾=0.01mm 下面描画 描画面逆文字	φ20+0.4/-0 t=1		\11,000(\12,100)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平目盛 +ｸﾛｽ線	R-HC1024h	〃	φ24×1t		\12,000(\13,200)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平垂直目盛	R-HV1020	目盛全長=10mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.1mm±0.002 線巾=0.01mm 下面描画 描画面逆文字	φ20+0.4/-0 t=1		\11,000(\12,100)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平垂直目盛	R-HV1024	〃	φ24×1t		\12,000(\13,200)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平垂直目盛	R-HV2024	目盛全長=20mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.1mm±0.002 線巾=0.01mm 下面描画 描画面逆文字	φ24×1t		\13,000(\14,300)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平垂直目盛	R-HV2024h	目盛全長=20mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.05mm±0.002 線巾=0.01mm 下面描画 描画面逆文字	φ24×1t		\14,000(\15,400)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平垂直目盛	R-HV2020c	目盛全長=10mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.01mm±0.002 線巾=0.003mm 下面描画 描画面逆文字	φ20+0.4/-0 t=1		\14,000(\15,400)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平垂直目盛	R-HV2024c	〃	φ24×1t		\15,000(\16,500)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
同心円	R-C20	ﾋﾟｯﾁ=0.5mm±0.01 線巾=0.01mm	φ20+0.4/-0 t=1		\12,000(\13,200)	A2LA校正 一般計測
同心円	R-C24	〃	φ24×1t		\13,000(\14,300)	A2LA校正 一般計測
同心円同心角	R-CS20	X･Yﾋﾟｯﾁ=0.05mm±0.002 全長16mm 円1mmΦ〜16mmΦ 四角1mm□〜16mm□ 1mm間隔 線巾=0.01mm	φ20+0.4/-0 t=1		\14,000(\15,400)	A2LA校正 一般計測
同心円同心角	R-CS24	〃	φ24×1t		\15,000(\16,500)	A2LA校正 一般計測
方眼目盛	R-S1020	目盛全長=10mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=1.0×1.0mm±0.01 線巾=0.01mm	φ20+0.4/-0 t=1		\11,000(\12,100)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
方眼目盛	R-S1024	〃	φ24×1t		\12,000(\13,200)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
方眼目盛	R-S1020h	目盛全長=10mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.5×0.5mm±0.01 線巾=0.01mm	φ20+0.4/-0 t=1		\12,000(\13,200)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
方眼目盛	R-S1024h	〃	φ24×1t		\13,000(\14,300)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
方眼目盛	R-S1020c	目盛全長=10mm±0.02 ﾋﾟｯﾁ=0.1×0.1mm±0.005 線巾=0.01mm	φ20+0.4/-0 t=1		\13,000(\14,300)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
方眼目盛	R-S1024c	〃	φ24×1t		\14,000(\15,400)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
180度 角度スケール	R-D18020	角度ﾋﾟｯﾁ＝1度 上面描画	φ20+0.4/-0 t=1		\13,000(\14,300)	A2LA校正 一般計測
180度 角度スケール	R-D18024	〃	φ24×1t		\14,000(\15,400)	A2LA校正 一般計測
360度 角度スケール	R-D36020	角度ﾋﾟｯﾁ＝1度 上面描画	φ20+0.4/-0 t=1		\14,000(\15,400)	A2LA校正 一般計測
360度 角度スケール	R-D36024	〃	φ24×1t		\15,000(\16,500)	A2LA校正 一般計測
丸ゲージ スケール	R-CG20	円直径：0.10,0.15,0.20 0.25,0.30,0.35,0.40 0.45,0.50,0.55,0.60 0.65,0.70,0.75,0.80 0.85,0.90,0.95,1.0 上面描画	φ20+0.4/-0 t=1		\13,000(\14,300)	A2LA校正 一般計測
丸ゲージ スケール	R-CG24		φ24+0.4/-0 t=1		\14,000(\15,400)	A2LA校正 一般計測
複合目盛	NO.100	格子・直径・尺度・角度・半径 下面描画	φ35×1.3t		\4,000(\4,400)	A2LA校正 一般計測
複合目盛	NO.101	直径・尺度・角度・半径 下面描画	φ35×1.3t		\4,000(\4,400)	A2LA校正 一般計測
水平垂直目盛	NO.110	十字(ｸﾛｽ) 10×15mm ピッチ＝0.1mm 下面描画	φ35×1.3t		\4,000(\4,400)	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平目盛	NO.1	スケール長＝10mm ピッチ＝0.1mm 下面描画	φ26×1.3t		\4,000(\4,400) 在庫限り	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
水平目盛	NO.2	スケール長＝10mm ピッチ＝0.05mm 下面描画	φ26×1.3t		\4,000(\4,400) 在庫限り	JCSS校正 A2LA校正 一般計測
基準スケール ブロック 受注生産	R-B130	10μm〜100μmまでのＣＤ型 ブロック基準スケール 上面描画	φ130×1.2t		受注生産品	A2LA校正 一般計測
基準スケール アライメント 受注生産	R-A130	20μm〜100μmまでのＣＤ型 アライメント基準スケール 上面描画	φ130×1.2t		受注生産品	A2LA校正 一般計測
基準スケール ピンホール 受注生産	R-P120	10μm〜200μmまでのＣＤ型 ピンホール基準スケール 上面描画	φ120×1.2t		受注生産品	A2LA校正 一般計測

校正測定について


校正測定・・・・基準器やキャリブレーションターゲット・マスターガラスとして欠かせない校正測定を承ります。

・・・・・・・・校正検査測定は（財）日本品質保証機構または（独）東京都立産業技術研究センターにて

・・・・・・・・ピッチ・線巾を測定し測定書を添付致します。

・・・・・・・・ピッチ計測はＪＣＳＳもしくはＡ２ＬＡマークか一般計測を選択できます。

・・・・・・・・円形・サークル・角度測定はＡ２ＬＡ校正か一般計測になります。

　　　　　　　　一般計測はＪＣＳＳ校正された計測器を使用します。







ピッチ・距離測定・・・ＪＣＳＳ校正・Ａ２ＬＡ校正・一般計測の３種から選べます。

・・・・ＪＣＳＳ校正費用 ＝ ５ポイント測定まで￥４９，５００円 （税込み￥５４，４５０円）
　　　　　　　　　　　　　　以降１ポイント追加に付き￥２，８００円（税込み￥３，０８０円）ＵＰ

・・・・Ａ２ＬＡ校正費用 ＝ ５ポイント測定まで￥４９，５００円 （税込み￥５４，４５０円）
　　　　　　　　　　　　　　以降１ポイント追加に付き￥２，８００円（税込み￥３，０８０円）ＵＰ


・・・・ＪＣＳＳとＡ２ＬＡは基本的にトレーサビリティー体系図が取れていますので標準での書面発行はありません。

・・・・トレーサビリティ体系図書面発行が必要な場合は別途３，６００円（税込み￥３，９６０円）にて承ります。

・・・・注：Ｘ軸・Ｙ軸の１ラインでの価格になります。座標ラインが変わると同料金が発生します。



・・・・一般計測費用　＝５ポイント測定まで￥４７，３００円〜　（税込み￥５２，０３０円〜）
　　　　以降１ポイント追加に付き￥２，８００円（税込み￥３，９６０円）ＵＰ
・・・・Ｘ軸・Ｙ軸のピッチ・線幅測定など内容別にお見積りいたします。



線幅測定・・・・・・・一般計測

・・・・一般計測費用　＝５ポイント測定まで￥４７，３００円　以降１ポイント追加に付き￥２，８００円ＵＰ
・・・・・・・・・・・・
・・・・Ｘ軸・Ｙ軸のピッチ・線幅測定など内容別にお見積りいたします。



校正資料サンプル

ＪＣＳＳ校正・Ａ２ＬＡ校正は書類にユーザー名が入ります。

一般計測は書類に弊社名「アストライダ株式会社」が入ります。

・・・・ＪＣＳＳ校正測定書サンプル→　　 　　一般計測定書サンプル→　



描画面について




・特注製品・・・・・・・目盛・ピッチ・線巾・サイズやガラス定規・ＡＳＴＭ規格などのご希望に合わせて１枚から製作承ります。

・・・・・・・・・・・・ベースとなるガラス材料もステンレスや乳白色のオパールガラスへの変更実績もございます。

・・・・・・・・・・・・対物レンズと接眼レンズなどのレンズ間に入れて予め予想される倍率（見え方）に合わせて作成も出来ます。

・・・・・・・・・・・・お気軽にご相談下さい。