アストライダ株式会社 目盛板・ガラススケールのページです。
ガラススケール目盛板・レチクル・校正測定


ガラススケール目盛板とは平面光学硝子(透明なガラス)に目盛スケールやサークル・格子などが精密に描かれたものです。

スケールは実寸表示となっており、被検査物体面に密着させて測長したり、

キャリブレーション用ターゲットやガラスゲージ・測定器のマスターとして幅広く使用されています。



ガラススケール目盛板の校正について

『校正』とは測定機器・測定ゲージの精度(ズレ量・誤差)を確認することです。
JIS Z 8103:2000:4342番『校正』、計測用語の定義では、『計器又は測定系の示す値,若しくは実量器又は標準物質の表す値と,標準によって実現される値との間の関係を確定 する一連の作業。(備考 校正には,計器を調整して誤差を修正することは含まない。)』と定義しています。
またISO9001の「監視機器及び測定機器の管理」では測定機器の校正をしなければならない事にについて定義されています。
ガラススケールの校正必要性は、ISO9001の基準を満たすだけではなく、自社測定器、検査機製品の品質保証のためにも役立ちます。
校正は決められた周期で定期的に行うのが原則です。
校正の周期については1年間隔で行うことをお勧めいたします。


校正測定及び証明書に関しては下記を参照下さい。



外形サイズ変更やオパールなどの白色ガラス・石英材の変更や特注目盛の製作も可能です。お気軽に問い合わせ下さい。



種別 型式 仕様・精度 外形 税別価格
税込価格
イメージ図 校正測定
対物ミクロ R-TM010
(NO.37)
目盛全長=1mm±0.02
ピッチ=0.01mm±0.002
76×26×1.1t \10,000
(\11,000)
JCSS
A2LA
一般
対物ミクロ R-TM005 目盛全長=1mm±0.02
ピッチ=0.005mm±0.001
76×26×1.1t \16,000
(\17,600)
JCSS
A2LA
一般
水平目盛 R-H1020 目盛全長=10mm±0.02
ピッチ=0.1mm±0.002
線巾=0.01mm
下面描画
φ20+0.4/-0
t=1
\8,800
(\9,680)
JCSS
A2LA
一般
水平目盛 R-H1024 φ24×1t \10,000
(\11,000)
JCSS
A2LA
一般
水平目盛 R-H1520 目盛全長=15mm±0.02
ピッチ=0.1mm±0.002
線巾=0.01mm
下面描画
φ20+0.4/-0
t=1
\8,800
(\9,680)
JCSS
A2LA
一般
水平目盛 R-H1524 φ24×1t \10,000
(\11,000)
JCSS
A2LA
一般
水平目盛
+クロス線
R-HC1020 目盛全長=10mm±0.02
ピッチ=0.1mm±0.002
線巾=0.01mm
下面描画
φ20+0.4/-0
t=1
\8,800
(\9,680)
JCSS
A2LA
一般
水平目盛
+クロス線
R-HC1024 φ24×1t \10,000
(\11,000)
JCSS
A2LA
一般
水平目盛
+クロス線
R-HC1020h 目盛全長=10mm±0.02
ピッチ=0.05mm±0.002
線巾=0.01mm
下面描画
φ20+0.4/-0
t=1
\8,800
(\9,680)
JCSS
A2LA
一般
水平目盛
+クロス線
R-HC1024h φ24×1t \10,000
(\11,000)
JCSS
A2LA
一般
水平垂直目盛 R-HV1020 目盛全長=10mm±0.02
ピッチ=0.1mm±0.002
線巾=0.01mm
下面描画
φ20+0.4/-0
t=1
\8,800
(\9,680)
JCSS
A2LA
一般
水平垂直目盛 R-HV1024 φ24×1t \10,000
(\11,000)
JCSS
A2LA
一般
水平垂直目盛 R-HV2024 目盛全長=20mm±0.02
ピッチ=0.1mm±0.002
線巾=0.01mm
下面描画
φ24×1t \10,000
(\11,000)
JCSS
A2LA
一般
水平垂直目盛 R-HV2024h 目盛全長=20mm±0.02
ピッチ=0.05mm±0.002
線巾=0.01mm
下面描画
φ24×1t \11,000
(\12,100)
JCSS
A2LA
一般
水平垂直目盛 R-HV2020c 目盛全長=10mm±0.02
ピッチ=0.01mm±0.002
線巾=0.003mm
下面描画
φ20+0.4/-0
t=1
\11,000
(\12,100)
JCSS
A2LA
一般
水平垂直目盛 R-HV2024c φ24×1t \12,000
(\13,200)
JCSS
A2LA
一般
同心円 R-C20 ピッチ=0.5mm±0.01
線巾=0.01mm
φ20+0.4/-0
t=1
\8,800
(\9,680)
一般校正
同心円 R-C24 φ24×1t \10,000
(\11,000)
一般校正
同心円同心角 R-CS20 X・Yピッチ=0.05mm±0.002
全長16mm
円1mmΦ〜16mmΦ
四角1mm□〜16mm□
1mm間隔
線巾=0.01mm
φ20+0.4/-0
t=1
\12,000
(\13,200)
一般校正
同心円同心角 R-CS24 φ24×1t \13,000
(\14,300)
一般校正
方眼目盛 R-S1020 目盛全長=10mm±0.02
ピッチ=1.0×1.0mm±0.01
線巾=0.01mm
φ20+0.4/-0
t=1
\8,000
(\8,800)
JCSS
A2LA
一般
方眼目盛 R-S1024 φ24×1t \10,000
(\11,000)
JCSS
A2LA
一般
方眼目盛 R-S1020h 目盛全長=10mm±0.02
ピッチ=0.5×0.5mm±0.01
線巾=0.01mm
φ20+0.4/-0
t=1
\8,000
(\8,800)
JCSS
A2LA
一般
方眼目盛 R-S1024h φ24×1t \10,000
(\11,000)
JCSS
A2LA
一般
方眼目盛 R-S1020c 目盛全長=10mm±0.02
ピッチ=0.1×0.1mm±0.005
線巾=0.01mm
φ20+0.4/-0
t=1
\8,000
(\8,800)
JCSS
A2LA
一般
方眼目盛 R-S1024c φ24×1t \10,000
(\11,000)
JCSS
A2LA
一般
180度
角度スケール
R-D18020 角度ピッチ=1度
上面描画
φ20+0.4/-0
t=1
\12,000
(\13,200)
一般校正
180度
角度スケール
R-D18024 φ24×1t \13,000
(\14,300)
一般校正
360度
角度スケール
R-D36020 角度ピッチ=1度
上面描画
φ20+0.4/-0
t=1
\12,000
(\13,200)
一般校正
360度
角度スケール
R-D36024 φ24×1t \13,000
(\14,300)
一般校正
丸ゲージ
スケール
R-CG20 円直径:0.10,0.15,0.20
0.25,0.30,0.35,0.40
0.45,0.50,0.55,0.60
0.65,0.70,0.75,0.80
0.85,0.90,0.95,1.0

下面描画
φ20+0.4/-0
t=1
\12,000
(\13,200)
一般校正
丸ゲージ
スケール
R-CG24 φ24×1t \13,000
(\14,300)
一般校正
複合目盛 NO.100 格子・直径・尺度・角度・半径

下面描画
φ35×1.3t \4,000
(\4,400)
一般校正
複合目盛 NO.101 直径・尺度・角度・半径

下面描画
φ35×1.3t \4,000
(\4,400)
一般校正
水平垂直目盛 NO.110 十字(クロス) 10×15mm
ピッチ=0.1mm
下面描画
φ35×1.3t \4,000
(\4,400)
JCSS
A2LA
一般
水平目盛 NO.1 スケール長=10mm
ピッチ=0.1mm
下面描画
φ26×1.3t \4,000
(\4,400)
JCSS
A2LA
一般
水平目盛 NO.2 スケール長=10mm
ピッチ=0.05mm
下面描画
φ26×1.3t \4,000
(\4,400)
JCSS
A2LA
一般
基準スケール
ブロック
受注生産
R-B130 10μm〜100μmまでのCD型
ブロック基準スケール
上面描画
φ130×1.2t 受注生産 JCSS
A2LA
一般
基準スケール
アライメント
受注生産
R-A130 20μm〜100μmまでのCD型
アライメント基準スケール
上面描画
φ130×1.2t 受注生産 JCSS
A2LA
一般
基準スケール
ピンホール
受注生産
R-P120 10μm〜200μmまでのCD型
ピンホール基準スケール
上面描画
φ120×1.2t 受注生産 一般校正



校正測定について


校正測定・・・・基準器やキャリブレーションターゲット・マスターガラスとして欠かせない校正測定を承ります。

・・・・・・・・校正検査測定は(財)日本品質保証機構または(独)東京都立産業技術研究センターにて

・・・・・・・・ピッチ・線巾を測定し測定書を添付致します。

・・・・・・・・ピッチ計測はJCSSもしくはA2LAマークか一般校正を選択できます。

・・・・・・・・円形・サークル・角度測定は一般校正になりますがトレーサビリティー体系図は添付いたします。






ピッチ・距離測定・・・JCSS校正・A2LA校正・一般校正の3種から選べます。

・・・・JCSS校正費用 = 5ポイント測定まで¥45,000円 (税込み¥49,500円)
              以降1ポイント追加に付き¥2,500円(税込み¥2,750円)UP

・・・・A2LA校正費用 = 5ポイント測定まで¥45,000円 (税込み¥49,500円)
              以降1ポイント追加に付き¥2,500円(税込み¥2,750円)UP


・・・・JCSSとA2LAは基本的にトレーサビリティー体系図が取れていますので書面発行はありません。

・・・・トレーサビリティ体系図書面発行が必要な場合は別途3,600円(税込み¥3,960円)にて承ります。

・・・・注:X軸・Y軸の1ラインでの価格になります。座標ラインが変わると同料金が発生します。



・・・・一般校正費用 =5ポイント測定まで¥43,000円 (税込み¥47,300円)以降1ポイント追加に付き¥2,500円(税込み¥2,750円)UP
・・・・・・・・・・・・(トレーサビリティー体系図付)

・・・・X軸・Y軸の混在及び線幅測定混在でも料金は変わりません。










線幅測定・・・・・・・一般校正

・・・・一般校正費用 =5ポイント測定まで¥43,000円 以降1ポイント追加に付き¥2,500円UP
・・・・・・・・・・・・(トレーサビリティー体系図付)

・・・・ピッチ・距離測定のX軸・Y軸の混在及び線幅測定混在でも料金は変わりません。





・・・・・・・・校正測定書サンプル→  



・特注製品・・・・・・・目盛・ピッチ・線巾・サイズやガラス定規・ASTM規格などのご希望に合わせて1枚から製作承ります。

・・・・・・・・・・・・ベースとなるガラス材料もステンレスや乳白色のオパールガラスへの変更実績もございます。

・・・・・・・・・・・・対物レンズと接眼レンズなどのレンズ間に入れて予め予想される倍率(見え方)に合わせて作成も出来ます。

・・・・・・・・・・・・お気軽にご相談下さい。



※ 品質改善等の理由により予告無く仕様及び価格の変更がございますのでご了承願います。
2019年3月1日:価格改定いたしました。
2016年4月1日:4月1日より校正測定費が改正されました。